葉綠素?zé)晒鈨x測量什么

產(chǎn)品型號： Shutter

所屬分類：葉綠素?zé)晒鈨x

更新時間：2018-06-07

簡要描述：葉綠素?zé)晒鈨x測量什么，葉綠素?zé)晒鈨x水下探測全防水自動開合型葉綠素?zé)晒鈨xShutter是由澳大利亞悉尼大學(xué)的John Runcie博士發(fā)明的。其設(shè)計之初衷就是解決連續(xù)監(jiān)測和暗適應(yīng)的沖突問題。

聯(lián)系我們 在線咨詢

葉綠素?zé)晒鈨x測量什么
   全防水自動開合型葉綠素?zé)晒鈨xShutter是由澳大利亞悉尼大學(xué)的John Runcie博士發(fā)明的。其設(shè)計之初衷就是解決連續(xù)監(jiān)測和暗適應(yīng)的沖突問題。他創(chuàng)造性的設(shè)計了一款能夠程序控制自動開閉的暗適應(yīng)葉室，可以*閉合進行暗適應(yīng)測量，測量結(jié)束后打開葉室進行自然光照。 
    Shutter對同一樣品監(jiān)控超過24小時可提供基線破曉熒光值Fo和Fm，暗適應(yīng)白天值Fo?，計算非光化學(xué)淬滅以及直接測量一天中的環(huán)境PAR。常規(guī)使用遠紅LED光，無需用戶干涉，設(shè)計可有規(guī)律測量Fo? 。到目前為止，其它品牌還無法實現(xiàn)田間自動測量Fo?，田間Fo?測量是田間熒光研究很重要的一個參數(shù)。此數(shù)值在區(qū)分非光化學(xué)淬滅所占相對比例上非常有必要，特別在下游調(diào)節(jié)和光失活過程中。在簡單水平上，此過程與植物自然條件下處理過量光照的能力有關(guān)，以及植物受脅迫程度如何 。測量和鑒別植物脅迫與野外環(huán)境研究特別相關(guān)。
    Shutter熒光儀非常適合直接測量電子傳遞速率 (ETR)，利用熒光測量法同時測量環(huán)境PAR以及其它植物特異數(shù)值，用以獲得ETR估算值。Shutter熒光儀原設(shè)計用來于水下操作，但也可用于陸地研究中。

葉綠素?zé)晒庹T導(dǎo)

    葉綠素a熒光是指葉綠素分子PSII吸收光量子受激發(fā)態(tài)，通過在發(fā)射而產(chǎn)生的一種主要光信號，他的強度正比于葉綠素a激發(fā)分子的濃度。在許多連續(xù)耗散光合吸收光能的過程中，熒光只是其中的一種，只要能夠引起光合作用的光也就是波長在400-700nm的可見光，都可以進行熒光誘導(dǎo)，專業(yè)術(shù)語叫做光化光，也被稱為作用光。在光合作用領(lǐng)域，400-700nm的光也被稱為光合有效輻射。光化光可以為人工光，如來自日光燈、鹵素?zé)艋虬l(fā)光二極管的光，也可以為自然光。但為了使我們的實驗具有可重復(fù)性，多數(shù)熒光誘導(dǎo)的測量會采用儀器提供的 恒定光強的人工光來誘導(dǎo)。只有保證測量條件*，才能對不同材料或不同處理的樣品進行直接比較。 

Aquation葉綠素?zé)晒鈨x的特點
    全自動開合葉室，程序控制葉室閉合進行暗適應(yīng)測量 
    測量ΦII, FV/FM, PAR和溫度 
    快門實現(xiàn)葉綠素?zé)晒庹T導(dǎo)曲線、NPQ弛豫和RLC（快速光曲線），無人值守自動監(jiān)測 
    自動增益和自動歸零功能：自動在野外進行正確設(shè)置
    數(shù)據(jù)采集器可同時操作多個傳感器 
    簡單開關(guān)啟動水下或陸地測量程序 
    全防水可達50m
    潛水堅固不銹鋼或工程塑料設(shè)計 
    擴展大型外殼與電池包 
    利用易用軟件選擇所供程序或設(shè)定程序 
    根據(jù)程序，可自動運行達72h 
    開合型傳感器可通過電腦控制，用于預(yù)田間實驗 
    增加數(shù)采可以擴展到多個傳感器（同時測量可達15個）

光合作用的光抑制
    光抑制是過剩光能造成光合功能下降的過程。過剩光能指植物所吸收的光能超出光化學(xué)反應(yīng)所能利用的部分。過去人們把光抑制與光破壞等同起來，認為發(fā)生了光抑制就意味著光和機構(gòu)遭到破壞。甚至把光抑制、光破壞、光氧化等，淪為一體。
光抑制的基本特征表現(xiàn)為：
    光合效率下降說明葉片吸收的光能不能有效地轉(zhuǎn)化為化學(xué)能。光破壞：PSII是光破壞的主要場所，破壞也可能發(fā)生在反應(yīng)中心也可能發(fā)生在與次級電子受體結(jié)合的蛋白上。發(fā)生光破壞后的結(jié)果：電子傳遞受阻、光合效率下降。當過剩的光能，不能及時有效地排散時，會對光合機構(gòu)造成不可逆的傷害，如光氧化、光漂白等等。一切影響二氧化碳同化的外界因素，如低溫、高溫、水分虧缺、礦質(zhì)元素虧缺等都會減少對光能的利用，導(dǎo)致過剩光能增加，進而加重
光破壞。